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電子元器件鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可以不受時(shí)間和季節(jié)的限制，隨時(shí)模擬自然界的典型環(huán)境條件。將產(chǎn)品投入環(huán)境模擬試驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn)，以模擬環(huán)境代替使用環(huán)境，可以節(jié)省大量的人力和物力，節(jié)約研制經(jīng)費(fèi)，同時(shí)，環(huán)境模擬試驗(yàn)以產(chǎn)品的使用環(huán)境條件為基礎(chǔ)，對(duì)產(chǎn)品的使用條件進(jìn)行控制，試驗(yàn)具有“加速“性質(zhì)，能夠縮短產(chǎn)品的試驗(yàn)周期。